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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等
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JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 材料
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 地质
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 金属
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪
空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 产品简介 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元 ——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的
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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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